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采用冠层分析系统测量冠层数据有哪些优点？

来源： http://www.polyscience.com.cn/ 　类别：技术文章　更新时间：2017-06-06　阅读次

植物冠层结构直接影响着植物的许多生物、物理过程，比如说光合作用、呼吸作用、蒸腾作用、碳氮循环和降水截获等。因此测定植物的冠层结果，对于提高现代农艺水平，有十分重要的意义。一般来说测定植物冠层数据主要有两种方法，第一种是直接测量，第二种是采用冠层分析系统间接测量，而现代农业研究中，多是采用第二种方式来开展测量工作，那么采用冠层分析系统测量冠层数据有哪些优点呢？

冠层分析系统

首先来说说直接测量和间接测量都是如何进行的。直接测量是通过想测定所有叶片的叶面积，再计算LAI，因要剪下全部待测叶片，多数属于毁坏性测量，或至少会干扰冠层，叶片角度的分布，从而影响数据的质量，直接测量费时、费力。间接测量就是利用冠层结构与冠层内辐射与环境的相互作用这一定量耦合关系，通过冠层分析系统来测定植物冠层的相关数据，通过植物冠层的转移模型来推断LAI。

冠层分析系统是通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。因此与直接测量法相比，采用冠层分析系统测量冠层数据，可以避免直接测量法所造成的大规模破坏植被的缺点，而且采用仪器进行测量操作，具有方便快捷，不受时间限制，获取数据量大等优点，非常适合用于现代农业科研研究当中，因此目前冠层分析系统被广泛应用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的研究与教学工作当中，并在实际工作中发挥了重要的作用。